AIS3000 網版瑕疵檢查系統
微米級高精密網版光學檢查 ＼ 先進工業視覺與高速自動化機構完美融合
1.83 μm 超高解像光學與軟體演算解析度
3 Defect Types 精準攔截針孔 / 網眼髒污 / 網線扭曲
Multi-Fixture 選配支援高階底片與光罩檢測分析
AIS3000 先進軟硬體配置與機能優勢
軟體 ＼ 光學特點
- 高解析度技術 : 搭載頂級光學系統，深度解像力高達 1.83μm。
- 檢測缺點類別 : 智慧軟體演算法可即時捕捉並判定以下網版致命缺陷： • 網版針孔 (Pinhole) • 網眼髒污與乳劑殘留 (Mesh Contamination) • 網線扭曲與變形 (Wire Distortion)
先進精密機構特點
- 三高剛性指標 : 整機傳動與平台機構具備 高速 ＼ 高穩定性 ＼ 高精度 的嚴苛工業標準。
- 自動對焦控制 : 採用先進的 微步進馬達自動對焦控制 技術，徹底消除人工調焦產生的視差與時效耗損。
多功能跨界擴充選配
- Option：底片檢測 : 系統具備極佳的擴充柔性，使用對應治具，即可一鍵無縫切換至精密高階底片之缺陷檢查。
- Option：光罩檢測 : 因應高端半導體或光電製程，使用對應治具，即可直接升級為專業光罩（Mask）之幾何缺陷量測與分析。
AIS3000 網版檢查系統常見採購問答
Q1 網版印刷製程中，AIS3000 的 1.83μm 高解析度對於攔截「針孔、網眼髒污、網線扭曲」等缺陷有何決定性的產能效益？
在高精密網版印刷（如綠漆、銲膏印刷或觸控面板導電線路）中，網版上若殘留微小的「網眼髒污（乳劑未顯影完全）」或產生微細的「針孔」，在大量印刷時會直接導致批量的斷線、短路等致命缺陷，造成極高的報廢率。傳統人工使用顯微鏡抽檢不僅速度慢、易疲勞，更無法識別大範圍的「網線扭曲」。力訓科技 AIS3000 網版瑕疵檢查系統具備驚人的 1.83μm 高解析度，配合高速工業相機與專利軟體算法，能全自動進行全區極速掃描。在幾秒鐘內即可將精細的針孔、髒污與扭曲形變量化產出。在裝機投產前就能精確攔截不良網版，幫電子大廠與印刷大廠大幅降低報廢成本、提升製程良率。
Q2 機構特點提及的「微步進馬達自動對焦控制」與「高速/高穩定性/高精度」硬體底座，在實際高強度運作下如何維持精密穩定？
精密光學量測解析度一旦達到 1.83μm 的微米級別，機台受到環境細微震動、或是網版張力不均引起的高低起伏，畫面就會嚴重失焦。力訓科技身為專業量測儀器廠商，整機傳動機構底座經過高剛性剛性防震設計，滿足「高速、高穩定性、高精度」的工業連續運作指標。最關鍵的是，設備搭載了「微步進馬達自動對焦控制」系統，當相機在大面積網版上高速位移掃描時，馬達會以微米級的步進間距進行即時的動態追焦。這徹底消除了傳統人工手動調焦造成的視差與時間耗損，保證了檢測數據的高重複性與嚴謹追溯性。
Q3 我們的產線除了張網網版之外，同時有高精度底片與玻璃光罩的檢查需求，這台 AIS3000 該如何實現「一機多用」的彈性配置？
這正是 AIS3000 系統在跨界功能上最具競爭力的破壞性优势。我們在光學架構與軟體核心中預留了多重計量模板。當您廠內有其他高端檢測需求時，只需向力訓科技採購「Option：底片檢測（使用對應治具）」或「Option：光罩檢測（使用對應治具）」，透過快速更換專用夾具治具，軟體即會自動載入底片或光罩專屬的背光照明補償與圖形比對演算法。這讓各大科技廠、半導體供應鏈可以用一套設備的購置預算，完美涵蓋網版印刷、高精度底片複驗與光罩幾何缺陷量測三大製程節點，建構極具成本效益與 topic authority 的全面智慧化品管藍圖。